纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法

Nanotechnology—Measurement methods for carrier mobility and sheet resistance of graphene films of sub-nanometer thickness

• 发布日期：2024-03-15
• 实施日期：2024-07-01
• 状态：现行

国家标准《纳米技术 亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。主要起草单位泰州巨纳新能源有限公司、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、上海巨纳科技有限公司、烯旺新材料科技股份有限公司、厦门凯纳石墨烯技术股份有限公司、泰州飞荣达新材料科技有限公司、泰州石墨烯研究检测平台有限公司、东南大学、南京大学、电子科技大学（深圳）高等研究院、清华大学、江南大学、贵州金特磨削科技开发有限公司、福建翔丰华新能源材料有限公司、北京石墨烯研究院有限公司、北京孵烯检测认证有限公司、欣旺达电子股份有限公司。主要起草人王浩敏 、丁荣 、吕俊鹏 、谢晓明 、王慧山 、孔自强 、陈晨 、陈谷一 、袁文军 、王兰兰 、方崇卿 、邵悦 、倪振华 、王欣然 、李雪松 、王琛 、肖少庆 、张豪 、宋宏芳 、许莉 、干静 、洪江彬 、陈敏 、严春伟 。

基础信息

• 标准号：GB/T 43682-2024
• 标准类别：方法
• 发布日期：2024-03-15
• 实施日期：2024-07-01
• 部分代替标准：暂无
• 全部代替标准：暂无

• 中国标准分类号：A42
• 国际标准分类号：71化工技术71.040分析化学71.040.50物理化学分析方法
• 归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会
• 执行单位：暂无
• 主管部门：全国纳米技术标准化技术委员会

采标情况

起草单位

起草人

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